Validação metrológica de microscópio eletrônico de varredura

por: AOKI, C. S. C.



Orientadores: SARAIVA, C. P. ; COMAR, R. C. G. ; ARAGÃO, B. J. G. ; DANTAS, F. B. H. ; LAZARINI, J. C.

Páginas: 7

Idioma: Portugues




Resumo

O objetivo desse trabalho foi relatar os resultados obtidos pelo CPqD, Rhodia e ITAL na intercomparação de resultados obtidos na medição de "reticulados de referência".




Comentários



Veja outros trabalhos acadêmicos

Outros conteúdos

Fórum

Tire suas dúvidas e ajude outras pessoas no CIMM:

Faça uma pergunta